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產品服務
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服務范圍

1. 設計仿真服務:

  電學仿真、熱管理和熱機械可靠性仿真、工藝仿真等。


2. 先進封裝設計加工服務:

   8/12英寸晶圓級封裝工藝服務:Bumping、WLCSP、FOWLP、TSV、2.5D/3D。

  SiP封裝、先進傳感器封裝、高速高密度封裝、高速高頻器件封裝、特種CIS封裝、三維封裝

  基板生產:FCCSP 以及FCBGA 相對應的基板封裝服務,包含高密度基板、coreless基板、玻璃基板


3.  測試服務及可靠性失效分析服務:

  3.1 電學測試:擁有先進的電學測試設備,可進行信號完整性、電源完整性、模擬、數字、RF、材料電學參數(損耗角、介電常數等)、EMI等電學性能的測試。

  3.2 可靠性測試及失效分析:擁有熱沖擊/循環實驗箱、高速老化箱、DMA、TMA、TGA以及X-ray等先進的失效分析設備,主用于對基板、封裝進行溫、濕度循環實驗以及對失效封裝進行分析。

  3.3 熱測試平臺:擁有微型壓縮機、壓力傳感器、熱電偶、冷凝劑、NI控制器、真空泵等熱測試設備

4. 工藝結構驗證服務:

    華進可以提供如下規格的標準假片;如有其它需求,亦可定制。

RDL        TSV        BumpingOxide WaferCu Wafer



RDL

規格書:

Item

Single Side RDL

Double Side RDL

Min Si Thickness

60um

60um

Copper Thickness

>6um

>6um

Copper Line/Space

Min 10um/10um

Min 10um/10um

Chip Size

Target ±20um

Target ±20um

Min Chip Size

0.6mm×0.3mm

0.6mm×0.3mm

Tape&Reel

Min die thickness 90um

Min die thickness 90um

結構示意圖:

20190829_2

20190829_3


TSV

規格書:

Item

TSV 10:100

TSV 20:200

Wafer size

300mm

300mm

Si Thickness

100um±10um

200um±10um

Via size

10um±1.5um

20um±3um

Metal layers

Top side:3
Bottom side:2

Top side:3
Bottom side:2

Copper Line/Space

Min 10um/10um

Min 10um/10um

Micro Bump Pitch

Min 40um

Min 40um

結構示意圖:

文本框: TSV20190829_4 


Bumping

規格書:

Item

Wafer Bumping

Wafer Size

300mm/200mm

Bump Pitch

Min 80um

Bump Size

Min 50um

Bump Height

<80um

RDL Line/Space

Min 10um/10um

 

結構示意圖:

 

20190830_5


 

Oxide Wafer

規格書:

Item

Oxide Wafer

Oxide Wafer

Wafer size

300mm

200mm

SiO2 Thickness

0.1um~6um

0.1um~6um

 

Cu Wafer

規格書:

Item

Cu Wafer

Cu Wafer

Wafer size

300mm

200mm

Cu Thickness

≥1um

≥1um


5. 戰略調研與知識產權服務:

  國際知名調研機構Yole Development公司中國區制定合作伙伴和代理,可提供先進封裝相關領域標準或定制調研報告。

  依托公司知識產權服務平臺與專業技術團隊,可提供先進封裝相關領域知識產權調研、分析等服務。